変位センサ（変位計）：オプテックス・エフエー株式会社の変位センサ

変位センサ（変位計）

高さ・厚みの測定、反りや歪み・振れの測定、ある位置から他の位置へ移動した際の変位量の測定、幅・蛇行制御、段差判別など。レーザ光にて非接触で安定測定する変位センサ（変位計）。

レーザ変位センサ

ローコストからハイエンドまで、繰返精度に応じたバリエーション。測定対象物を選ばず汎用性の高い光学式（レーザ）の変位センサです。

アンプ分離型

高精度と操作性を両立。センサヘッドとアンプユニットが分離した変位センサ。

アンプ内蔵型

コンパクトかつローコスト。機器組み込み用途、判別用途に適した変位センサ。

コントロールユニット

当社製センサと三菱シーケンサ製MELSEC-Qシリーズを「高速」「簡単」「低価格」に接続できるコントロールユニットです。

レーザライン形状センサ

平行ラインレーザ光でワークの表面形状を2次元判別。高さや幅、厚み、ピッチや溝深さ、傾き、有無などを判別します。

レーザライン形状タイプ

32mm幅のライン状レーザで高さや幅を判定可能な変位センサ。

オプテックス・エフエー変位センサラインナップ

	CD1シリーズ	CD3シリーズ	CD33シリーズ	CD4シリーズ	CD5シリーズ
投光光源	クラス2レーザ	クラス2レーザ	クラス2レーザ	クラス2レーザ（CD4-Lはクラス1）	クラス2レーザ（CD5-Lはクラス1/ CD5-W2000はクラス3R）
受光素子	PSD	CCD	C-MOSリニアイメージセンサ	C-MOSリニアイメージセンサ	C-MOSリニアイメージセンサ
構造	アンプ内蔵	アンプ内蔵	アンプ内蔵	アンプ分離	アンプ分離
リニアリティ	±2〜5％F.S.	±1％F.S.	±0.1％F.S. 〜±0.3％F.S.	±0.1％F.S.	±0.05％F.S.〜 ±0.1％F.S.
サンプリング周期	1〜100ms （3段切換）	1ms	500[750]〜2000μs （4段切換） [　]はCD33-250	100μs	100〜3200μs （6段切換）