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HOME > 製品情報 > 非接触温度計・サーモグラフィ > PIシリーズ > 特徴

設置型赤外線サーモグラフィ
PIシリーズ

温度分布の「解析」に

注意

PIシリーズは、輸出貿易管理令別表第1 10項(4),10項(2)に該当しております。(OPTPI1ML□除く)
詳細は当社までお問い合わせください。

  • 高解像度・高フレームレート

    PIシリーズは、解像度が640×480pixel※1と高いため、細かな温度分布の解析が行えるサーモグラフィです。視野内で測定エリアを自由に設定でき、柔軟かつ多彩な測定が可能です。
    さらにフレームレートが最大128Hz※2なので、応答時間が短く、ハイスピードなラインにも対応できます。測定エリアが狭い場合でも対象物がすぐにフレームアウトすることもありません。

    ※1 超高解像度タイプOPTPI640 (フレームレート32Hz選択時)の値
    ※2 可視カメラ内蔵タイプOPTPI200/OPTPI230の値

ラインスキャナ機能を搭載

  • 全機種でラインスキャナ機能を搭載することにより、製造ラインから流れてくるワークの温度分布を取得できます。
    例えば炉内は高温を維持させるため炉壁の隙間は狭いですが、ラインスキャナ機能によりわずかな隙間からワーク全体の温度分布が確認できます。

豊富なラインナップで様々な素材・温度帯に対応

  • 汎用

    測定波長:7.5~13μm 測定温度範囲: -20~+1500℃

    汎用機種はローコスト、可視カメラ内蔵、高解像度、超高解像度の4タイプをラインアップ。搭載レンズの種類も豊富なため、用途に応じて選択できます。また、高解像度レンズ搭載のマイクロスコープタイプは最小□28mmの温度測定が可能です

  • ガラス測定用

    測定波長:7.9μm 測定温度範囲:+200~+1500℃

    7.9μmの波長で測定することにより、透明体であるガラスの測定を実現。
    また解像度が640×480pixel(フレームレート32Hz選択時)と高いため、細かな温度分布の解析が行えます。

  • 高温金属測定用

    測定波長:0.5~1.1μm 測定温度範囲: +450~+2450℃

    金属、金属酸化物、セラミックなどの温度測定に適しており、石英などの素材を使用したガラス越しの測定も可能。鋳物製造ラインにおける注湯工程の温度や高周波誘導加熱装置における金属の温度測定にも対応しています。

    • レーザ溶接向けに
      さらなる短波長タイプを用意
    • PI 05M:測定波長0.5〜0.54μm
      PI 08M:測定波長0.78〜0.82μm

    検出波長を限定することでレーザ光の影響を受けにくくするレーザ溶接測定向けモデルを用意。
    溶接部分が発する波長のみとらえることで安定した温度測定が可能です。

解析を柔軟にサポートするオプテックス・エフエー独自の多機能ソフトウェア(日本語対応)

  • 多機能ソフトウェアPIX connectは、温度分布の解析などを容易に行えます。

  • 主な機能
    ・ 測定エリア内の温度表示
        (平均値、最大値、最小値、占有率、差分)
    ・ 温度データのCSV出力
    ・ 温度のピークホールド(最大値維持)、
        バレーホールド(最低値維持)
    ・ アラーム設定、トリガー入力
    ・ ラインプロファイルの表示
    ・ タイムスタンプの表示、タイムスタンプ付きの画像保存

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